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解决方案
  • 产品名称：IC外观检测分选机
  • 产品类别：半导体行业
产品名称：IC外观检测分选机
产品类别：半导体
功能简述：Jedec Tray承载IC单元物料、3D Vision、2D Vision、翻Tray（IC单元翻面）、分选、带料贴装（扩展模块）；
设备优点：1.利用Jedec Tray方法的优势提供高生产率，最高可达100K UPH（包括PVI）；2.高速真实3D视觉，用户自定义巡检工具；3.强大的检测视野，采用红蓝多层照明优化PVI；4.强大的图像处理工具，图像处理算法，图像合并和滤波，ROI，忽略区域等；5.对小尺寸IC单元外观检测及分选的优势。